微納器件光譜響應度測試系統

型號：iSpec-XSR400

iSpec-XSR400系列是一款專用于低維材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm探測光斑，實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源，例如超連續白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求。是微納器件研究的優選。

產品特點及優勢：

l                      光源可選氙燈光源、超連續白光光源、連續激光器、皮秒脈沖激光器

l                      制冷樣品臺溫度范圍-196℃-600℃（-196攝氏度需要選擇專用冷卻系統）

l                      示波器采樣率可達5GS/S，記錄長度10M

l                      可以引入可調單色光源，進行全光譜范圍的光譜響應度測試

產品應用：

l                      光譜響應度

l                      外量子效率

l                      單色光/變功率IV

l                      不同輻照度IT曲線（分辨率200ms）

l                      不同偏壓下的IT曲線

l                      LBIC，Mapping

l                      線性度測試

l                      響應速率測試

微納器件光譜響應度測試系統主要技術指標：

低維材料（如石墨烯、碳納米管、二氧化鎢、過渡金屬硫化物等）因其光電特性而受到廣泛關注。這些材料的光電測試是為了評估它們在電子器件、光電子器件和存儲器等方面的應用潛力。